BX51/BX51M-IR
发布时间：2012-09-21 阅读次数：
BX51/BX51M-IR 系统IR显微镜
● 近红外外透射反射观察用显微镜
● 5X到10X红外镜头,像差校正本涵盖从可见光到近红外整个波段
● 晶圆，化合物半导体的内部，封装芯片内部以及CSP bump观察适宜
主要特点：
1.UIS无限远校正光学系统，提供出色的图像质量
2.人机工程学的进一步改善，使操作更为舒适
3.多种高度功能化的附件，能满足各种检验需要
● 近红外外透射反射观察用显微镜
● 5X到10X红外镜头,像差校正本涵盖从可见光到近红外整个波段
● 晶圆，化合物半导体的内部，封装芯片内部以及CSP bump观察适宜
主要特点：
1.UIS无限远校正光学系统，提供出色的图像质量
2.人机工程学的进一步改善，使操作更为舒适
3.多种高度功能化的附件，能满足各种检验需要
